上市的 PCIe 測試工具，與眾不同

泰克 TMT4 容限測試儀是同類產(chǎn)品中專業(yè)級 PCIe 測試工具，可快速輕松地評估 PCIe Gen 3 (8 GT/s) 和 Gen 4 (16 Gt/s) 設備的鏈路運行狀況。它支持 CEM、M.2、U.2 和 U.3 等最常見的 PCIe 形狀因數(shù)，能夠與當今可用的大多數(shù) PCIe 設備進行連接。

借助支持 PCIe 的 16 通道高密度線纜和連接器，該容限測試儀可在數(shù)秒內經(jīng)過適配后測試系統(tǒng)板或擴展卡。在短短 2 分鐘內即可完成 PCIe Gen 3 和 Gen 4 設備的發(fā)射器和接收器鏈路運行狀況的評估。它確實獨樹一幟。

TMT4 容限測試儀重構了 PCIe 鏈路運行狀況的測試方式。作為被測設備 (DUT) 的有源鏈路助手，該儀器能夠直接控制 DUT 的預設和鏈路訓練參數(shù)，從而可逐個通道或逐個預設深入了解潛在的設計缺陷。評估 PCIe Gen 3 和 Gen 4 設備的鏈路運行狀況從未如此簡單。

是時候深入了解并輕松使用泰克的前沿創(chuàng)新技術

TMT4 容限測試儀專為現(xiàn)代工程師而設計。如今，過長的測試時間和復雜的設備設置通常會導致設計和驗證工程師遇到測試瓶頸。TMT4 在設計時充分考慮了這兩個挑戰(zhàn)，并對測試時間和易用性給出了相應的解決方案。

TMT4 在短短 5 分鐘內即可完成設置并準備好測試，而優(yōu)化的用戶界面使測試變得比以往更輕松。借助這些改進，泰克在評估 PCIe Gen 3 和 Gen 4 設備的鏈路運行狀況方面充分響應了現(xiàn)代工程師的需求。

主要功能

• 支持的 PCIe Gen 3 (8 GT/s) 和 Gen 4 (16 Gt/s) 速度

• 支持多達 16 條通道的鏈路帶寬

• 支持 CEM、M.2、U.2 和 U.3 設備

• 兩種掃描選項：快速掃描和自定義掃描

• 為每個測試的通道提供 DUT 發(fā)射器 (Tx) 眼圖和鏈路訓練參數(shù)

• 為每個測試的通道提供 DUT 功能接收器 (Rx) 評估

適合多種 PCIe 設備的適配器和線纜

TMT4 容限測試儀平臺支持 11 種標準 PCIe 適配器，可用于測試系統(tǒng)板和擴展卡。這使用戶可以測試各種可能的 DUT，并可評估最常見的 PC 組件，如主板、顯卡和 SSD，這是連接和測試 PCIe 設備的一種簡單方法。

除了 M.2 Edge（具有可適應特定損耗條件的集成線纜）之外，所有適配器均可使用標準 16 通道高密度線纜輕松互換。這為用戶提供了在數(shù)秒內輕松切換 PCIe 形狀因數(shù)的靈活性，并可最大限度地減少測試之間的停機時間。

測試 DUT 發(fā)射器的信號路徑從未如此簡單

DUT 發(fā)射器 (Tx) 測試經(jīng)過優(yōu)化，只需幾分鐘便可讓您深入了解 DUT 發(fā)射器路徑性能。對于當今的工程師而言，評估其 DUT 的全鏈路帶寬 Tx 性能通常需要數(shù)天甚至數(shù)周的時間。借助 TMT4 容限測試儀，可以在短短 2 分鐘內完成 Gen 4 設備的高級鏈路運行狀況評估。

此測試讓用戶可以快速查看容限測試儀與 DUT 之間鏈路的眼圖，并顯示用于張開眼圖的相關鏈路訓練參數(shù)。這些信息使團隊能夠對鏈路進行更頻繁的性能檢查，并快速識別任何通道和預設組合的總誤差。

這對于設計和驗證工程師尤其有用，因為他們通常會因傳統(tǒng)示波器和 BERT 測試設備的測試時間漫長而遇到瓶頸。例如，如果工程師想要快速查看 BIOS 更改對鏈路運行狀況的影響，他們可以掃描 DUT、更新 BIOS、再次掃描 DUT，并在幾分鐘內評估這些更改對鏈路性能的影響。

比以往更快的眼圖

作為 DUT Tx 測試的一部分，向用戶顯示每個通道/預設組合的眼圖，這些眼圖表示 DUT 和容限測試儀之間鏈路的無差錯區(qū)域。

容限測試儀的主要優(yōu)點是用戶可以極快速度生成這些眼圖。由于是向用戶實時顯示眼圖，因此只需幾秒鐘便可顯示結果。這種極速大大縮短了深入了解 DUT 鏈路運行狀況的時間。隨著工程師面臨的產(chǎn)品快速上市壓力不斷增加，容限測試儀將速度為設計和驗證團隊提供深入見解。

DUT 接收器 (Rx) 測試功能是對 DUT 接收器路徑進行功能評估。該測試旨在確定在操作范圍內從容限測試儀發(fā)射的信號在返回錯誤之前的衰減程度。這使工程師能夠在短短 30 秒內輕松評估功能性 Rx 鏈路的運行狀況，與現(xiàn)有設備相比，節(jié)省了寶貴的時間和精力。

此快速測試包括容限測試儀和 DUT 之間的鏈路，其中 DUT 選擇用于通信的預設。然后，容限測試儀通過在預期操作范圍內按通道/預設減少主光標值來逐步降低發(fā)射振幅。

使用此方法，用戶可以在不到一分鐘的時間內獲得對其 Rx 性能的高級評估，并確定是否存在任何值得使用其他設備進一步調查的通道問題。如果未指示錯誤，這將被視為功能合格。如果發(fā)現(xiàn)錯誤，則會向用戶顯示發(fā)生錯誤的主光標值，并將該測試結果視為功能性故障。

多種掃描選項

TMT4 提供兩種掃描選項：快速掃描和自定義掃描。兩種掃描類型均包括 DUT Tx 和 DUT Rx 測試，可以利用相同的物理設置運行掃描，但允許用戶進行不同級別的控制。每種掃描選項都有其自身的優(yōu)勢。

輕松保存和調用結果

可將任何掃描的結果快速輕松地保存至 .zip 文件中。所有表格數(shù)據(jù)（如鏈路訓練參數(shù)和原始眼圖測量值）均可保存為 .csv 文件，眼圖圖像保存為 .png 文件。

用戶界面選項范圍

可通過三個單獨的用戶界面控制 TMT4 容限測試儀：前面板 UI、Web 瀏覽器 UI 或 REST API。Web 瀏覽器和 REST API 均可讓用戶遠程控制儀器。

DUT 要求

為了使容限測試儀成功掃描 DUT，DUT 必須支持一組要求。這些要求包括：

• DUT 必須能夠在 Gen 3 (8 GT/s) 和/或 Gen 4 (16 Gt/s) 速度下達到 L0 狀態(tài)。

• DUT 必須支持 PCIe 協(xié)議并能夠處理 PERST（重置）信號。

• 必須將鏈路訓練為至少 x1 帶寬。

• 要測試的選定通道必須在當前鏈路帶寬范圍內。

• DUT 必須能夠通過協(xié)議強制進入不同的 Tx 預設。

• DUT 必須能夠自控返回到 L0 狀態(tài)，無需人工干預。

• 如果需要，擴展卡必須支持自身功率超過 75 W。TMT4 為 AIC 提供高達 75 W 的功率。

• 必須將端點 DUT 配置為擴展卡，必須將根端口 DUT 配置為系統(tǒng)板。

• DUT 必須從容限測試儀中選擇標準 PCIe 預設 (0-9) 才能執(zhí)行 Rx 測試。