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同惠/Tonghui并行多通道耐壓測試儀TH9010
品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,交通,電氣 |
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輸出電壓 | 0.10kV - 1.00kV ±2% | 電阻測試范圍 | 0.1MΩ - 10.0GΩ |
測量范圍 | 1mA - 20mA | 電阻測試精度 | 0.10MΩ - 999MΩ |
同惠/Tonghui并行多通道耐壓測試儀TH9010
同惠/Tonghui并行多通道耐壓測試儀TH9010
功能特點(diǎn)
A. 同步測試功能
TH9010系列8個(gè)獨(dú)立通道支持同步并行輸出,從而將測試效率提高8倍。搭配專用掃描擴(kuò)展器TH90101,可將一個(gè)通道擴(kuò)展為4個(gè)通道,最多疊加4臺擴(kuò)展器,即可將該儀器擴(kuò)展為8*4*4=128個(gè)通道。
B. 觸電保護(hù)功能
當(dāng)操作人員與高壓輸出端接觸時(shí),儀器會監(jiān)測流經(jīng)人體的電流是否過高,若判定為觸電,儀器會立即切斷輸出,保障用戶的安全。
C. 開短路偵測功能(OSC)
在耐壓測試過程中由于被測件與測試線接觸不良、測試線損壞等,會發(fā)生開路現(xiàn)象,導(dǎo)致不良品誤判為良品;被測件損壞或者被測端間距太小導(dǎo)致測試線短路現(xiàn)象。
使用OCS功能,TH9520/A可預(yù)先偵知測試端開短路情況,減少產(chǎn)線接觸不良的問題發(fā)生,保護(hù)治具設(shè)備,節(jié)省測試成本。
D. 接觸檢查功能
對于產(chǎn)線測試時(shí)的接觸檢查問題,除OSC功能外,在配有擴(kuò)展器的情況下還具有引腳檢測功能(圖D),確保被測件與測試線連接可靠,提升測試可靠度與效率。
B. 電弧偵測功能(ARC)
耐壓不良是指在耐壓測試中有電氣閃絡(luò)或絕緣破壞發(fā)生。現(xiàn)在耐壓絕緣測試已經(jīng)成為各類電器設(shè)備和絕緣材料安全測試的標(biāo)準(zhǔn)配備。但是,僅僅考慮到絕緣失效并不能完產(chǎn)品安全問題,另一類現(xiàn)象,電弧放電ARC在耐壓測試中越來越得到重視,放電與絕緣能力之間具有的相關(guān)性,所以ARC偵測是控制產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵。
以下兩種情況會出現(xiàn)電弧放電現(xiàn)象:
a) 當(dāng)材料承受較高電壓,電場強(qiáng)度大于氣體的電離能時(shí),會讓材料表面氣體發(fā)生瞬時(shí)電離現(xiàn)象,此時(shí)會在材料表面形成打火并對材料形成溫升現(xiàn)象。長期的打火和溫升可能會造成材料的質(zhì)變,進(jìn)而導(dǎo)致絕緣劣化,使得電壓耐受程度下降,最終發(fā)生絕緣失效。
b) 被測件檢測點(diǎn)間距過小時(shí),在被測件兩端施加較高電壓,檢測點(diǎn)兩端空間里的空氣會被電離,形成打火現(xiàn)象,也就是拉弧現(xiàn)象。拉弧現(xiàn)象產(chǎn)生高頻的瞬時(shí)放電,在測試過程中產(chǎn)生了一個(gè)高頻電流信號如圖D,電弧偵測(ARC)功能是用高頻電量量測的方式偵測,判斷出材料絕緣性能是否有不良。
應(yīng)用
■ 自動(dòng)化測試系統(tǒng)
■ 家用電器
■ 變壓器、電機(jī)
■ 電氣設(shè)備
■ 照明行業(yè)
■ 新能源汽車
■ 電子元器件
■ 醫(yī)療設(shè)備
技術(shù)參數(shù)
型 號 | TH9010 | TH9010A | |
單元數(shù) | 8路獨(dú)立單元 | 4路獨(dú)立單元 | |
耐壓測試 | |||
輸出電壓 電流測試范圍 | AC | 0.10kV - 5.00kV ±2% | |
DC | 0.10kV - 6.00kV ±2% | ||
AC | 0mA - 10.00mA ±(2%讀數(shù)+5個(gè)字) | ||
DC | 0μA - 5.00mA ±(2%讀數(shù)+5個(gè)字) | ||
快速放電功能 | 測試結(jié)束后自動(dòng)放電(DCW) | ||
絕緣電阻測試 | |||
輸出電壓 | 0.10kV - 1.00kV ±2% | ||
電阻測試范圍 | 0.1MΩ - 10.0GΩ | ||
電阻測試精度 | 0.10MΩ - 999MΩ 量程±10%+2個(gè)字 1.00GΩ - 10.0GΩ 量程±20%+2個(gè)字 | ||
放電功能 | 測試結(jié)束后自動(dòng)放電 | ||
電弧偵測 | |||
測量范圍 | 對應(yīng)電流 | 1mA - 20mA | |
一般參數(shù) | |||
電壓上升時(shí)間 | 0.1s - 999.9s | ||
測試時(shí)間設(shè)定(AC/DC) | 0.2s - 999.9s | ||
電壓下降時(shí)間 | 0.1s - 999.9s | ||
等待時(shí)間(IR) | 0.2s - 999.9s | ||
時(shí)間精度 | ±(1%+0.1s) | ||
存儲器 | 可存儲100個(gè)測試文件,每個(gè)文件最多20個(gè)測試步驟 |